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Esko stellt im Vorfeld der drupa das bahnbrechende neue AVT Varnish Inspection- und Defect Detection-Modul vor
Das innovative Varnish Inspection-Modul für das AVT Helios 100%-Inspektionssystem ermöglicht es Etikettenweiterverarbeitern, eine maximale Ausgabe bei gleichzeitiger Reduzierung von Ausschuss im Druckproduktionsprozess zu erzielen. Die bahnbrechende neue Lösung gewährleistet eine unübertroffene Genauigkeit, kommt ohne UV-Zusätze für den Lack aus und bietet ein Inspektionssystem, das mit allen gängigen Systemen kompatibel ist.
Anforderungen der Etikettenweiterverarbeiter werden berücksichtigt
"Angesichts der hohen Rohstoffpreise und dem Druck auf alle Unternehmen, die Nachhaltigkeit zu erhöhen, hat die Reduzierung von Ausschuss bei gleichzeitiger Maximierung des Durchsatzes für Etikettenweiterverarbeiter oberste Priorität", erklärte Jan De Roeck, Director of Marketing, Industry Relations & Strategy bei Esko. "Die Gewährleistung der Genauigkeit beim Drucklauf trägt zur Steigerung der Effizienz bei, erhöht die Produktivität und reduziert Ausschuss. Die Kontrolle der Lackschicht ist jedoch seit jeher ein zeitaufwendiger - und damit kostspieliger - Prozess. Während konventionelle Systeme und das menschliche Auge keinen klaren Lack wahrnehmen können, sind Bediener nun mit dem neuen Lackinspektionsmodul für unser AVT Helios 100%-Inspektionssystem in der Lage, den Lack zu erkennen und zu inspizieren, ohne einen Schmalbahndrucklauf verlangsamen oder anhalten zu müssen."
Ein beträchtlicher Prozentsatz der Etiketten muss aus Design- und Sicherheitsgründen lackiert werden. Normalerweise muss die Druckmaschine angehalten werden, um ein Etikett zu entnehmen und eine manuelle Inspektion mithilfe eines Leuchtkastens durchzuführen. Der Prozess kann zudem die Beigabe von UV-Zusätzen zum Lack erforderlich machen, die in vielen Anwendungen nicht zulässig sind. Viewer setzen dann eine spezielle UV-Lichtquelle ein, was die Produktion nur weiter unterbricht.
"Wir haben das Varnish Inspection-Modul auf der Grundlage der umfassenden Inspektionskenntnisse des Esko AVT-Teams entwickelt, um all diese Probleme in einer einzigen automatisierten Lösung zu berücksichtigen, die Genauigkeit, Sicherheit und Komfort optimiert", so Jan De Roeck. "Dank dieser neuen Innovation kann ein einziges System alle Anforderungen erfüllen, darunter Druckinspektion, Lackinspektion, Strichcodeverifizierung, variable Daten, Farbe sowie weitere Prozess- und Qualitätsanforderungen. Das alles erfolgt parallel und mit höchster Produktionsgeschwindigkeit, ohne Kompromisse eingehen zu müssen."
"Das AVT Varnish Inspection-Modul bietet eine umfassende Kompatibilität und arbeitet nahtlos mit unzähligen Arten von Lackbeschichtungen zusammen", fügt Jan De Roeck hinzu. "Ob matt, glänzend oder taktil, die Technologie liefert erstaunliche Anzeige- und Inspektionsergebnisse."
Die präzise, eingehende Inspektion stellt mit unübertroffener Genauigkeit sicher, dass Lackbeschichtungsfehler wie fehlerhafte Registrierungen sowie teilweise und vollständige Lackmängel sofort nach dem Start des Drucklaufs erkannt werden. Das AVT Varnish Inspection-Modul überprüft automatisch, ob ein Lackmangel vorliegt und macht den Bediener darauf aufmerksam. Darüber hinaus prüft das System, ob fehlerhafte Registrierungen vorliegen, und weist auf diese hin, was zu erheblichen Zeit- und Ausschusseinsparungen und enormen Effizienzsteigerungen führt.
Das Varnish Inspection-Modul umfasst ein neues, patentiertes optisches Modul, das den optischen Kopf des bestehenden Inspektionssystems erweitert, sowie eine Software mit patentierten Algorithmen, die zur Unterstützung der Klarlackinspektion entwickelt wurde. Ein neuer Varnish PDF-Separationsviewer weist die Lackebenen aus.
"Das AVT Varnish Inspection-Modul fügt jedem bestehenden Inspektionssystem eine zusätzliche Präzisionsebene hinzu", so Jan De Roeck weiter. "Indem es normalerweise unsichtbare Fehler aufspürt, können Etikettenweiterverarbeiter kostspielige Druckprobleme und zeitraubende fehlerhafte Registrierungen vermeiden. Die Vorteile für den Bediener liegen in der höheren Druckgeschwindigkeit, in der verbesserten Qualität des Endprodukts und in der Ausschussreduzierung. Hinzu kommt, dass der Lack im Rahmen der Standarddruckinspektion geprüft wird und keinen zeitaufwändigen zusätzlichen Arbeitsschritt darstellt."
Jan De Roeck sagte, dass die Funktionalität und die Schnittstelle sehr benutzerfreundlich seien, sowohl für bestehende Nutzer des AVT-Inspektionssystems als auch für solche, die das System zum ersten Mal verwenden. "Diese neueste Innovation unterstreicht einmal mehr unsere Absicht, die Markteinführung von Verpackungsgütern zu beschleunigen, indem wir Lösungen entwickeln, die für Unternehmen einen deutlichen Unterschied in Bezug auf Produktivität, Qualität und Ausschussreduzierung ausmachen", sagte Jan De Roeck. "Dadurch, dass die Bediener weniger Zeit für die Inspektion und Neukonfiguration aufwenden müssen, bleibt mehr Zeit für wertschöpfende Aufgaben, und durch die Reduzierung von Ausschuss werden Material- und Energiekosten für sich wiederholende Durchläufe eingespart. Das System optimiert darüber hinaus die finale Druckqualität dank einer verbesserten Oberflächenabdeckung, was zu einer verbesserten Produktqualität und damit zu einer höheren Kundenzufriedenheit führt", so Jan De Roeck weiter.
Das neue Esko AVT Varnish Inspection-Modul eignet sich für alle AVT Helios R-, B-, S-, Turbo+-, Turbo HD- und Turbo HD+-Systeme.